一、前言： 自從第三代半導體問世以來，第三代半導體正日益成為當今科技領域的熱門話題，其在高速運算、能源效率和高頻通信等領域展現出了巨大的應用潛力。隨著這一新興技術的快速發展，我們迫切需要對其性能進行全面的評估和測試，以確保其在實際應用中能夠達到預期的效果。本報告旨在通過Benchmark Test對