如何查看STM32 勘誤手冊(Errata)

STM32勘誤表:是為了解決現有STM32晶片中和文檔中的存在問題和遺漏而編寫。

眾所周知,每一顆晶片從最初發布到最終的穩定版本,都需要經歷好幾個版本,每一個版本之間又有怎樣的差異?我們如何來查看晶片的版本?如何查看已知晶片的問題?如何查看該問題是否有解決方案?以STM32G070XX為例,以上問題將一一解答。

首先從ST官網下載數據手冊和勘誤手冊:
https://www.st.com/en/microcontrollers-microprocessors/stm32g070cb.html#documentation(該鏈接包含該型號所有文檔資料:數據手冊,參考手冊(寄存器資料),勘誤手冊,編程手冊,應用文檔等)

數據手冊:

勘誤手冊:

可以通過兩種方法查看晶片版本:
1. 通過晶片的絲印,說明如下(Datasheet P89有說明):

2. 通過讀取MCU寄存器獲取晶片版本,以STM32G070XX舉例說明,參考勘誤手冊P1:
通過讀取REV_ID寄存器,如果讀取數據為0x2000,該晶片版本為B版本;如果讀取數據為0x2002,則該晶片版本為Y版本。


在勘誤手冊第二頁中,列舉了下面勘誤手冊的幾個情況:

A = limitation present, workaround available 存在限制,有解決方案;

N = limitation present, no workaround available 存在限制,無解決方案

P = limitation present, partial workaround available 存在限制,可解決部分。

“-” = limitation absent 無限制

從問題的清單的列表可以看到,所有的問題分不同的版本,也分成不同等級的解決方案(如上解釋:A,N,P,“-”),如果某版本有問題,但是有解決方案,會顯示“A”;如果某版本有問題,無解決方案,則會顯示“N”;如果某版本有問題,有部分解決方案,則顯示“P”;如果已經徹底解決了該問題,則會出現“-”。

整個勘誤表會按照功能再分條描述具體的問題,可以先通過Summary 查找問題,再找到對應的具體問題看詳細描述。


以System(2.2)的問題Unstable LSI when it clocks RTC or CSS on LSE(2.2.1)舉例說明:
1.該問題在晶片B版本和V版本中均顯示“P”,表示兩個晶片版本中都存在該問題,但是有解決方案。
2.在具體的描述部分(Description)詳細描述了該問題,在解決方案(Workaround)部分提出了兩種解決方案。

 

以上是對STM32 晶片的勘誤手冊的一個說明,概而括之:在開發過程中遇到mcu的奇奇怪怪的問題又解決不了的,可以先看一下勘誤手冊中是否有提及該問題及解決方案,可以節約一些時間。

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